Rasterkraftmikroskop

Rasterkraftmikroskop, Abkürzung AFM [von englisch atomic force microscope], kurz Kraftmikroskop, veraltet Atomkraftmikroskop, Weiterentwicklung des Rastertunnelmikroskops, mit dem die Oberflächen leitender und nicht leitender Proben mit atomarer Auflösung gemessen werden.

Bei der Rastertunnelmikroskopie wird eine feine Sondenspitze, die sich an der Unterseite eines Cantilevers (miniaturisierte Blattfeder, Biegefeder) befindet, über die Probenoberfläche geführt. Aufgrund des geringen Abstandes zwischen Sondenspitze und Probenoberfläche wirken – bedingt durch die atomare Wechselwirkung – verschiedene Kräfte (z. B. Coulomb-Abstoßung) zwischen den Oberflächenatomen der Spitze und der

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