Verfahren der Kristallstrukturanalyse zur Berechnung und Darstellung der Elektronendichte in Kristallgittern durch Fourier-Synthese, wobei die empirisch ermittelten Atomformfaktoren als Fourier-Koeffizienten dienen. Man erhält diese Strukturfaktoren aus den bei der Beugung von Röntgenstrahlung an der Elektronenhülle atomarer Kristallbausteine gemessenen Intensitäten der verschiedenen Streuwellen.