Das Transmissions-Elektronenmikroskop (Abkürzung TEM) beziehungsweise Durchstrahlungs-Elektronenmikroskop gleicht in seinem Aufbau dem Lichtmikroskop. Zur Abbildung werden Elektronen verwendet, die aus einer geheizten Wolframhaarnadelkathode austreten und im Hochvakuum durch eine Anodenspannung zwischen 50 kV und 3 MV auf einheitliche Geschwindigkeit beschleunigt werden. Nach Bündelung durch die elektrische oder magnetische Elektronenkondensorlinse durchstrahlen sie das höchstens etwa 10−3 mm dicke Präparat (Objekt). Dort werden sie je nach Dicke und Dichte der durchstrahlten Präparatzonen

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Quellenangabe
Brockhaus, Klassifizierung. http://brockhaus.de/ecs/enzy/article/elektronenmikroskop/klassifizierung