Raster|elektronenmikroskop, Abkürzung REM, englisch SEM [für scanning electron microscope], Elektronenmikroskop, bei dem der Elektronenstrahl, mit dem die Probe im Rasterverfahren beleuchtet wird, über eine elektronenoptische

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Quellenangabe
Brockhaus, Rasterelektronenmikroskop. http://brockhaus.de/ecs/enzy/article/rasterelektronenmikroskop