Maßnahme zur Steigerung der Zuverlässigkeit von technischen Erzeugnissen, bei der durch künstliche Alterung die Ausfallrate im Betrieb verringert wird. Dazu werden die betreffenden Bauelemente (z. B. Halbleiter, integrierte Schaltkreise) einer Hochtemperaturlagerung und elektrischem Betrieb ausgesetzt, zeitraffend kommt es dadurch zu provozierten Frühausfällen des Prüfgutes.