Reibungsmikroskop
Reibungsmikroskop, Lateralkraft-Mikroskop, englische Abkürzung LFM [von lateral force microscope] oder FFM [von friction force microscope],
ein Rastermikroskop, bei dem im Gegensatz zum Rasterkraftmikroskop die Verdrillung des Cantilevers ermittelt wird, die von der Reibung zwischen der Prüfspitze und der Oberfläche abhängt. Es können somit die Reibung bestimmt und damit Aussagen über die Materialzusammensetzung in der Probenoberfläche getroffen werden.
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